质量

产品高可靠性

锐骏半导体一直致力于向客户提供高性能，高可靠性的产品，产品满足以下可靠性要求。

          类别                 测试项目                        测试条件                                     测试时间         样品数  判定    参考标准

Life Stress Test	HTGB	Ta=150℃，100%VgsMax	168/500 hrs	77Pcs	0/1	JESD22-A108
	HTRB	Ta=150℃，80%VdsMax	168/500 hrs	77Pcs	0/1	JESD22-A108
Environment Stress Test	Precondition	30℃/60%RH+3 cycle reflow@260℃ (MSL3)	192hrs	77Pcs	0/1	JESD22-A113
	HTST	Ta=150℃	168/500 hrs	77Pcs	0/1	JESD22-A103
	TCT	-65~150℃	500Cycle	77Pcs	0/1	JESD22-A104
	UHAST	130℃/85%RH/33.3psia	96hrs	77Pcs	0/1	JESD22-A118
	PCT	121℃/100%RH/29.7psia	96hrs	77Pcs	0/1	JESD22-A102
	THT	85℃/85%RH	168/500 hrs	77Pcs	0/1	JESD22-A102
	H3TRB	85℃，85%RH，80% VDS, up to 100V	168/500/1000hrs	77Pcs	0/1	JESD22-A101
	IOL	△Tj>100℃	Package dependent	77Pcs	0/1	MIL-STD-750 Method 1037